微电子器件可靠性习题

微电子器件可靠性习题
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第一、二章 数学基础

1.微电子器件的可靠性是指产品在 规定条件下 和 规定时间内 ;完成 规定功能 的能力。

2.产品的可靠度为R(t)、失效概率为F(t),则二者之间的关系式为R(t)+F(t)=1。

3.描述微电子器件失效率和时间之间关系的曲线通常为一“浴盆”,该曲线明显分为三个区域,分别是 早期失效期 、 偶然失效期 和 耗损失效期 。

4.表决系统实际上是 并联 (串联、并联)系统的一种。

5.设构成系统的单元的可靠度均为R ,则由两个单元构成的串联系统的可靠度为 R 2 ;由两个单元构成的并联系统的可靠度为 2R-R 2 。

6.产品的可靠度为R(t)、失效概率密度为f(t),则二者之间的关系式为

f(t)=R ’(t) 。

7.微电子器件的可靠度是指产品在 规定条件下 和 规定时间内 ;完成 规定功能 的 概率 。

8.产品的可靠度为R(t)、失效概率密度为f(t),失效率λ(t),则三者之间的关系式为 f(f)= λ(t)R(t) 。

9.设构成系统的单元的可靠度均为R ,则由两个单元构成的串联系统的可靠度为 R 2 ;

由两个单元构成的并联系统的可靠度为 2R-R 2 ;由三个单元构成的2/3(G)表决系统的

可靠度为 3R 2-2R 3 。

10.100块IC ,在第100小时内失效数为6块,到第101小时失效11块,则该IC 在100小时的失效概率密度是 6/100 ,失效率是 5/94 。(给出分数形式即可)。(2分)

11.产品的可靠度降低到0.5时,其工作时间称为 中位寿命 ,可靠度降低到1/e 时,其工作时间称为 特征寿命 。

12.λ(t )是一个比较常用的特征函数,它的单位用1/h ,也常用%/1000h 或10-9/h ,后者称为菲特(Fit ),100万个器件工作1000h 后只有一个失效率,即1Fit 。

13.失效率单位有三种表示方法:1/h 、%/1000h 、(非特Fit )10-9/h 。通常可用每小时或每千小时的百分数作为产品失效的单位。对于可靠性要求特高的微电子器件产品,常用Fit 作为基准单位,1个非特所表示的物理意义是指10亿个产品,在1小时内只允许有一个产品失效,或者说每千小时内只允许有百万分之一的失效概率。

14.在t=0时,有N=100件产品开始工作,在t=100小时前有两个失效,而在100-105小时内失效1个,失效概率密度f (100)=1/5*100,失效率λ(100)=1/5*98,假如到t=1000小时前有51个失效,而在1000-1005小时内失效1个,此时f (1000)=1/5*100,λ(1000)=1/5*49。

15.一台电视机有1000个焊点,工作1000小时后检查100台电视机,发现有两点脱焊,则焊点的失效率(t=0)为λ(0)=2/1000*(105-0)=2*10-8/小时=20非特

一、简答和证明(满分14分)

1) 什么是失效概率密度f(t)?(2分)

2) 什么是失效率λ(t)?(2分)

3) 已知失效概率密度f(t)是失效概率F(t)的微商,证明f(t)和λ(t)之间的关系式为

(10分)

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