ASPT-露点传感器-技术指标-CHN

ASPT-露点传感器-技术指标-CHN
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ASPT露点与湿度分析仪技术指标说明

美国先进半导体工艺技术公司,列克星敦市,肯塔基州

产品简介:

ASPT露点与湿度分析仪采用了α-Al2O3和SiO2混合材质为传感器主体,以最新纳米技术制作而成,是本公司独家专利。该产品具有稳定性长久、快速响应及在极端高或低的湿度环境下的良好耐久性等优点,可称是当下国际最先进的露点与湿度分析仪。其标准的露点分析范围在-80°C 至+20°C之间,如有特殊需求可延展到-100°C至+50°C之间;即使浸入液态

水环境,传感器也可以迅速恢复活性。经过一次性出厂校准后,分析仪可以在正常工作条件下持续稳定使用,在使用寿命期内不需要再次校准。测量的露点与湿度信号变换为4-20 mA电流输出,在LCD显示屏上显示数值。

本分析仪凭借其诸多优越性能可望成为许多工业应用领域使用同类

产品的首选。

产品型号:ASPT SRDM-100,可提供便携式、在线式两类应用方式。

产品特征:

• 独家专利技术,α-Al2O3和SiO2混合材质传感器主体,无漂移

• 露点测量范围:-100°C至+50°C之间

• 超快速响应时间(<3s),保证安全和可靠的瞬时监测

• 极低的信号滞后效应,在湿度快速变化的环境内也可及时输出可靠读数

• ±1°C之内的高准确度(露点数值> -30°C)

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